如下內(nèi)容是中科創(chuàng)達(dá)招聘常見面試題，你了解了嗎？

　　中文：

　　1、軟件測(cè)試分哪兩種方法、分別適合什么情況?

　　2、一套完整的測(cè)試應(yīng)該由哪些階段組成?分別闡述?

　　3、您所熟悉的軟件測(cè)試類型都有哪些?

　　4、測(cè)試有例設(shè)計(jì)方法都有哪些?

　　5、缺陷記錄包含哪些內(nèi)容?如何提交高質(zhì)量軟件缺陷記錄?

　　6、編寫測(cè)試用例包含哪幾個(gè)組成部分?

　　英文：

　　只記得翻譯的內(nèi)容：

　　1、軟件測(cè)試的目的是發(fā)現(xiàn)缺陷，并且盡可能早的發(fā)現(xiàn)缺陷

　　2、列舉一些缺陷不能被修復(fù)的原因：計(jì)劃時(shí)間不充分、它不是一個(gè)缺陷、修改它是危險(xiǎn)的、不值得被修改、缺陷沒有適當(dāng)?shù)奶峤?/p>

　　3、你提交缺陷報(bào)告并且使它們以最好的機(jī)會(huì)被修改的基本原則是什么?